设备型号：JEM-IHP200F
原产地/供应商：日本/JEOL
主要用途
场发射电子探针在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域被广泛使用，可进行固体材料微区成分的定性和定量分析，以及元素化学状态分析等，尤其对于C、Li等轻元素，具备更加准确高效的微区元素分辨能力。
项目介绍
设备参数指标
l 加速电压：1 - 30 kV
l 束流：10-12 - 3×10-6 A
l 束斑尺寸：≤20 nm @10 kV
l SE分辨率：2.5 nm @ 30 kV
l 分析元素：B5-U92
l 谱仪道数：4道波谱仪
功能配置
l 肖特基场发射电子枪
l 四道波谱仪
l 100和140mm罗兰圆半径
l 70mm2电制冷能谱仪
样品要求
结果展示
服务保障
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检测项目
