设备型号：JEM-F200
原产地/供应商：日本/JEOL
主要用途
高分辨场发射透射电子显微镜用于高分子材料、半导体、陶瓷、生物等各种材料，结合能谱仪可以对微区元素含量及分布进行表征，高分辨高速相机可提供25fps帧速率4K*4K全画幅实时观察。
项目介绍
设备参数/指标
l 加速电压：20 – 200 kV
l 点分辨率：0.23 nm @ 200 kV
l 线分辨率：0.10 nm @ 200 kV
l HAADF分辨率：0.16 nm
l 样品台：TX/TY：±35°/ ±30°
l COMS相机像素：4K*4K
功能配置
l 高速高分辨COMS相机
l TEM/EDS/NBD/CBD模式
l 2×100mm2超级能谱仪系统
l 主动防震平台
样品要求
结果展示
服务保障
- 我们承诺
服务质量第一时间反馈专人处理，保证及时解决问题
- 开具发票
所有产品均可开具发票请在下单时选择填写
- 平台保障
因过失行为导致用户直接损失,均可享受“平台责任保障”
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