设备型号：D8 DISCOVER PLUS
原产地/供应商：德国/BRUKER
主要用途
对固体或粉末样品进行高分辨多晶衍射、小角衍射、掠入射测试；还可对单晶薄膜进行摇摆曲线扫描、多晶薄膜进行反射率等非常规测试试验，结合数据库可对半导体单晶外延膜层材料的结晶完整性分析，对多晶薄膜的厚度、密度、粗糙度进行分析；同时可结合原位变温模块进行材料的原位高低温测试。
项目介绍
设备参数/指标
l 电压/电流：42 kV/100 mA
l 功率：4200 W
l 角分辨率：< 0.01°
l 探测器通道：192 个
l 最大计数率：> 108
l 常规测试2θ范围：0-135°
l 掠入射扫描范围：θ-(θ+90)°
l 旋转样品台转速：13200° /min
l 原位高温实验温度：<1200 ℃
l 原位高温温度精度：±1°
功能配置
l Lynx XE-T一维能量色散型阵列探测器
l Turbo Cu转靶线焦斑光管，入射三光路自动切换
l 高精度测角仪
l 全自动防空气散射刀口
l 原位变温样品台、旋转样品台、紧凑尤拉环
l 物相检索、可编程结构精修软件、正版PDF4-2020数据库
样品要求
结果展示
服务保障
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服务质量第一时间反馈专人处理，保证及时解决问题
- 开具发票
所有产品均可开具发票请在下单时选择填写
- 平台保障
因过失行为导致用户直接损失,均可享受“平台责任保障”
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检测项目
