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微聚焦二维X射线衍射仪
微聚焦二维X射线衍射仪
微聚焦二维X射线衍射仪

设备型号:D8 DISCOVER VÅNTEC-500


原产地/供应商:德国/BRUKER

主要用途

配有微焦斑光源,对固体或粉末样品进行微区(最小50μm)的物相分析,以及宏观应力、宏观织构及原位高低温分析测试,同时配备大窗口面探测器,单帧可覆盖30°范围内的多重布拉格衍射花样,对单晶样品的相关测试具有极大优势。


项目介绍

设备参数/指标

电压/电流:40 V/375 μA

功率:30 W

窗口尺寸:140 mm

像素数量:2048*2048

微焦斑直径:0.05 mm~1 mm

面探测器开角范围:±15°

常规测试2θ范围:0-140°

样品台旋转角:-10°~90°

样品台行程:X±40 mm

               Y±40 mm

               Z:-1~2 mm

功能配置

Iμs微聚焦Co靶光源

测角仪:测角仪半径大于280mm,且可连续改变,最小运动步长 0.0001°, 2θ测试最大范围140°

探测器:二维实时面探测器Vantec-500

样品台:高精度5轴尤拉环样品台,采用光学编码器技术与步进马达双重定位



样品要求


结果展示


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