设备型号：AMBER GMU TOF-SIMS
原产地/供应商：捷克/TESCAN
主要用途
超高分辨率电镜联用系统可完成复杂的纳米操作，搭载飞行时间二次离子质谱能完成从H开始的轻元素检出分析和微量元素分析工作，结合能谱仪和EBSD，可以完成微区成分及晶体结构取向分析。
项目介绍
设备参数/指标
l 离子束分辨率：2.5 nm @ 30 kV
l TOF -SIMS质谱分辨率：不低于800，质量数范围不小于1 - 2500
l 元素含量检出限：ppm量级
l 元素范围：从H开始的任意元素
l EBSD：在线标定速度高达4500 点/秒
功能配置
l 液态金属镓离子源
l 铂/碳沉积气体
l 集成TOF-SIMS系统
样品要求
结果展示
服务保障
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- 开具发票
所有产品均可开具发票请在下单时选择填写
- 平台保障
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