设备型号:VEGA3 XMH
原产地/供应商:捷克/TESCAN
全自动钨灯丝扫描电子显微镜具有突出的电子光学性能,清晰的数字化图像,成熟的操作软件,用户界面友好等特征,适用于材料断口形貌和微观组织观察、微区成分定性和半定量分析等。
设备参数/指标
l 电子束最佳工作距离分辨率:
3 nm @ 30 kV
8 nm @ 3 kV
l 加速电压:200 V ~30 kV
l EDS探测器能量分辨率:
Mn Kα保证优于127 eV
l 元素分析范围:Be4~Cf98
l 最大视野:>50 mm@ 最大工作距离
l 最大样品高度:147 mm(不能旋转)
106 mm(可旋转)
l 样品台倾转角度:-30° to +90°
功能配置
l ET型二次电子探测器(YAG晶体)
l 可升缩背散射电子探测器
l TESCAN专有中间透镜光束优化
l 电子光路和合轴自动设置
l AZtecOne X-Max 20能谱仪
服务质量第一时间反馈专人处理,保证及时解决问题
所有产品均可开具发票请在下单时选择填写
因过失行为导致用户直接损失,均可享受“平台责任保障”
服务质量第一时间反馈专人处理,保证及时解决问题
适用于材料断口形貌和微观组织观察、微区成分定性和半定量分析等
具有独特的低真空、环境真空模式,广泛应用于测试各种材料
具有普通扫描电镜对材料表面微观形貌的观察
主要用于纳微米尺度下的切割、加工,透射样品制备等工作
可完成复杂的纳米操作
用于金属、半导体等固体样品上制备微纳结构、精确定向制备高质量透射电镜样品等
广泛应用于材料科学、纳米颗粒、生物医学、食品药品、纺织纤维、地质科学等领域
主要用于较大样品的微观尺度形貌观察,以及微区元素分析;配合拉伸台,可以进行原位观察