设备型号:QUATTRO S
原产地/供应商:美国/THERMO FISHER
场发射环境扫描电子显微镜具有独特的低真空、环境真空模式,广泛应用于测试各种材料,如金属材料、高分子材料、无机材料(矿物、岩土、甚至含水分材料)等的样品表面二次电子形貌信息,背散射电子组分区分,能谱元素成分分析。
设备参数/指标
l 加速电压:200 V – 30 kV
l 电子束流:1 pA -200 nA
l 高真空分辨率:1.0 nm(SE,30 kV)
l 低真空分辨率:1.3 nm(SE,30 kV)
l 环境真空分辨率:1.3 nm(SE,30 kV)
l 最大样品高度:85 mm
l 样品台倾转角度:-15° to + 90°
功能配置
l 高分辨肖特基场发射电子枪
l 压差真空系统保护装置
l 70mm2电制冷能谱仪
l SmartScan智能扫描和图像导航
服务质量第一时间反馈专人处理,保证及时解决问题
所有产品均可开具发票请在下单时选择填写
因过失行为导致用户直接损失,均可享受“平台责任保障”
服务质量第一时间反馈专人处理,保证及时解决问题
适用于材料断口形貌和微观组织观察、微区成分定性和半定量分析等
具有独特的低真空、环境真空模式,广泛应用于测试各种材料
具有普通扫描电镜对材料表面微观形貌的观察
主要用于纳微米尺度下的切割、加工,透射样品制备等工作
可完成复杂的纳米操作
用于金属、半导体等固体样品上制备微纳结构、精确定向制备高质量透射电镜样品等
广泛应用于材料科学、纳米颗粒、生物医学、食品药品、纺织纤维、地质科学等领域
主要用于较大样品的微观尺度形貌观察,以及微区元素分析;配合拉伸台,可以进行原位观察