设备型号：GEMINI 300
原产地/供应商：德国/ZEISS
主要用途
原位扫描电子显微分析系统除了具有普通扫描电镜对材料表面微观形貌的观察，微区元素分析以及晶体结构分析外，还可用于研究材料的原位拉伸，高温实验中微观组织结构的变化，以及变化过程中元素及晶体结构的变化情况。
项目介绍
设备参数/指标
l 电镜分辨率：0.7 nm @15 kV （SE）
l 0.6 nm @1 kV(Inlens)
l 放大倍率：12-2,000,000×
l 探针电流：不小于20 nA；束流稳定性优于0.2% /h
l 加速电压：0.02 kV ～ 30 kV，连续10V可调
l 样品台：X ≥ 130 mm，Y ≥ 130 mm，Z ≥ 50 mm，
l -4~70°（倾斜），360°（旋转）
l 真空度：电子枪：优于10-7 Pa
l 样品室：优于2.7×10-4 Pa
l 样品台倾转角度：-10°~60°
功能配置
l 样品室内二次电子探测器
l 样品室内背散射电子探测器
l 镜筒内Inlens二次电子探测器
l 镜筒内能量选择背散射探测器
l 能谱仪EDS
l 电子背散射衍射仪EBSD
l 原位台（加热、拉伸、剪切、弯曲）
样品要求
结果展示
服务保障
- 我们承诺
服务质量第一时间反馈专人处理，保证及时解决问题
- 开具发票
所有产品均可开具发票请在下单时选择填写
- 平台保障
因过失行为导致用户直接损失,均可享受“平台责任保障”
- 安全保障
服务质量第一时间反馈专人处理，保证及时解决问题
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